问题描述：
[多选]
ZnO压敏电阻的离子迁移说劣化机理模与实验结果更相符，基本认为：（）。
A．劣化是一种晶界现象
B．劣化是耗尽层中离子迁移的结果
C．劣化是稳定层中离子迁移的结果
D．迁移离子主要是氧和填隙Zn
参考答案：查看无
答案解析：无
☆收藏
答案解析：无
☆收藏
- 我要回答: 网友(18.221.97.20)
- 热门题目: 1.楼层内信息系统等电位连接网络 2.低压配电整个系统的中性线（N 3.低压配电系统的保护线用（）色