问题描述:
[单选]
用平面平晶的技术光波干涉法检定一量具工作面的平面度时,出现的干涉条纹或干涉环,其干涉原理是()。
A.球面干涉
B.等倾干涉
C.等厚干涉
参考答案:查看无
答案解析:无
☆收藏
答案解析:无
☆收藏
- 我要回答: 网友(3.135.205.24)
- 热门题目: 1.什么是仲裁检定? 2.SY/T5317规定,每次取 3.正确选择测量方法的原则是:既